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三次元测量仪测量基面和定位方法的选择
更新时间:2024-01-11 发布:东莞市天测光学设备有限公司
三次元测量仪测量基面和定位方法的选择

1. 在使用三次元测仪前的基面选择时,应遵守基面统一原则

即三次元测仪的测基面、设计基面、工艺基面、装配基面相一致。如果在加工过程中由于各种原因,工艺基面和设计基面不能一致,则工序检验时,测基面与工艺基面一致,在装配前的终结检验时,测基面应与装配基面一致。

2. 三次元测仪定位方法的选择

三次元测仪定位方法由许多因素确定,但大体上有两种情况,一是测基面直接作为定位基面,另一种是测基面不能作为定位基面。

典型的定位方法有面定位和线定位。面定位又有平面定位、外圆柱面定位之分。线定位主要是定位


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