*平面平晶是以光波干涉原理为础，利用平晶的测面与试件的被测面之间所出现的干涉条纹来测被测面的平面度。*平面平晶用于检定块的研合性和平面度以仪器和具的测面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计单位、实验室作为标准平面和样板。