| 是否提供加工 | 否 | | ZMIKE | | 产品型号 | 283-10，283-20 | 测范围 | 0.075-25.4mm,0.625-50mm | | 准确度 | 0.9um | 外行尺寸 | 50*50（mm） | | 重 | 20（kg） | 分辩率 | 0.0001 |
美国ZMIKE台式外形尺寸激光测径仪，测精度高，测速度快，可单次或连续测，可满足不同测应用领域。与传统的接触式外形几何尺寸测比较，BenchMike采用了激光非接触测原理。对原始测数据自动采集、处理，数字显示等技术，降低了由于测方法及测人员造成的误差。从而提高了测的精度。友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯，将使用者从繁重的测中解放出来。特别是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测束手无策的被测任务，BenchMike可提供满意的测。 测原理： 采用激光扫描原理进行测，如右图所示，激光发生装置产生的激光，照射在马达驱动的高速旋转棱镜上，通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束，测试区间中的被测物体遮挡光束形成的阴影，会在光电收集端形成的阶跃，阶跃宽度及位置决定了被测物体的直径及在测试区间位置等参数。 主要特点：
◆ 测精度高，测速度快。可满足不同测应用领域
◆ 丰富的测模式满足不同的测应用
◆ 采用了全新数据处理技术，图形用户交互(GUI)界面、快捷按键使测更直观，操作更便利
◆ 具有测应用库及自编辑被测功能，配合夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测扩充能力
◆ 单点及双点自动校准功能，减少了使用条件的变化对测的影响，使仪表维护更方便
主要技术参数：
型 号 | 4025S | 4025G | 4050S | 4050G | 测范围 | 0.1 - 25.4 mm | 0.1 - 25.4 mm | 0.25 - 50 mm | 0.25 - 50 mm | 复现性误差 | ±0.3 µm | ±0.13 µm | ±0.5 µm | ±0.25 µm | 线性误差 | ±0.9 µm | ±0.5 µm | ±1.5 µm | ±0.76µm | 光线面积 | 56.1 mm | 56.1 mm | 77.5 mm | 77.5 mm | 测试区间范围 | ±1.5 x 25 mm | ±1.5 x 25 mm | ±3 x 50 mm | ±3 x 50 mm | 扫描光尺寸 | 125 µm | 125 µm | 250 µm | 250 µm | 扫描光速率技术参数 | 50m/sec | 50m/sec4025S | 100m/sec4025G | 100m/sec4050S | 此数据的获得是通过对连续90次测值中大变化值得出。单次测值的获得是取200次单次扫描测值的平均值，测试时在测试区间的环境变化应足够的小（小的空气对流，小的温度变化），测试中采用了低膨胀标准件，在测中标准件位置保持不变 |
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