itc55100雪崩能测试仪替代产品 ST-DP_U(1200V200A) Si/SiC/GaN 材料的 DIODE、MOSFET、IGBT雪崩能测试仪 单脉冲雪崩能 EAS 1uJ~5000mJ(VDS电压>600V条件下) 单脉冲雪崩电流 IAS 1A~500A(VDS 电压>600V 条件下) 单脉冲雪崩功率 PAS 1W~600KW(VDS 电压>600V条件下) 双脉冲雪崩**....................................................................................
产品简述 ST-DPX 系列产品是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换,可测试各类封装外观的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计,根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT(双脉冲测试 Double Pulse Testing,以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性)栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案完全IEC60747-9标准。 产品功能及输出功率进行了模块化设计,满足用户潜在的后期需求,*高测试电压电流可扩展至10KV/10KA,变温测试支持常温到200℃,支持生产线批化全自动测试。
产品特点
测试系统电压以1500V为一个模块,电流以2000A为一个模块,可扩展至10KA/10KV 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH) 另有程控式电感箱可供选择 针对不同结构的封装外观,通过更换 DUT适配器即可 可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nH 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用(24hr 工作) 安全稳定(PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁) 系统具有安全工作保护功能,以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害,设计CE认证 支持半自动和全自动测试 采用工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风大等特点 自动化:单机测试时只需手动放置DUT,也可连接机械选件实现自动化测试线 智能化,通过主控计算机进行操控及数据编辑,测试结果自动保存及上传指定局域网 安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全。 参数指标 --029--87--30--09--001
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