普赛斯芯片测试用数字源表精度高，测试，可进行超低电流和高电压测试，国产自主研发，替代进口，价格实惠！详询一八一四零六六三四七六 
S 系列源表 应用
l 分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件； l 能与率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等 l 传感器特性测试，电阻率、霍尔应等 l 有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等 l 纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
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