| 低湿度恒温恒湿试验箱 DP(Programmable Temperature & Humidity Chamber) 低湿度恒温恒湿箱,低温低湿恒温恒湿试验箱,可程式恒温恒湿试验箱.调温箱,低温调温箱,超低温调温箱,调热湿箱,低温调温调湿箱,超低温调温调湿箱 产品用途 超低湿试验箱，除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及对产品在(低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等)环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。※ 需性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到间测程序一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同，并缩小测不确定的因素范围发生。 产品特点 控制系统 * Q8-901 温湿度控制器（韩国原装进口） 高分辨率彩色触摸屏接口 交互式参数输入方式 支持韩文，英文，中文 提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本 同时支持干湿球方式及电子湿度传感器 于PC的方便监控 方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式 支持利用UDC300(选项)的USB存储器-可代替记录器 内置于的PID算法的自动调谐功能 提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构 的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程 显示PV曲线(0~8天) 规范条件 执行标准.国家标准分为强制性国标（GB）和推荐性国标（GB/T） 国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件 国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件 国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件 满足标准 电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热 电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷 电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热 美国用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度 美国用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温 美国用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温 美国用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验 美国用标准,MIL-STD810D方法502.2 美国用标准,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态 日本工标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热 日本工标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温 美国半导体行标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验 美国半导体行标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验 美国半导体行标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验 国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温 国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温 国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法 国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验 国家标准,GB/T2423.4-93方法 国家用环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验 |
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