| 产品简介 OWT-200采用PHYS独有技术，对透明、半透明、不透明几乎所有的材料的厚度，TTV，LTV,弯曲度，平整度进行无接触测，其对透明、半透明材料的高精度精确测的性价比在同类测试仪器中是无可比拟的。特征■无接触无损伤测■高精确度及重复性■测材料范围广，透明、半透明、不透明几乎所有材料的 厚度/弯曲度/平整度/LTV/TTV■抗强，稳定性好 ■强大的工控机控制和大屏幕显示■一体化设计操作更方便，系统稳定■为晶圆硅片关键生产工艺提供精确的无接触测■超高测试速度 技术指标 ■测试尺寸：50mm-200mm. ■厚度测试范围：1000 um，可扩展到1700 um ■ 厚度测试精度：+/-0.1um ■ 厚度重复性精度：0.050um ■ TTV 测试精度: +/-0.1um ■ TTV重复性精度: 0.01um ■ Warp/Bow精度: 0.2um ■ Warp/Bow重复度: 0.5um ■测时间: <100秒 ■ 材料：透明、半透明、不透明几乎所有的材料 ■ 尺寸: 560X650X400mm ■ 电源：220V 50HZ 300W 主要客户：欧洲、美洲、台湾等地区蓝宝石生产企 |
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