| 在待测材料的另一侧难于或无法触到的情况下，Panametrics® 35系列超声精确测厚仪提供了简便易行、经济划算的解决方案。这些坚固小巧的测厚仪可对许多不同形状和尺寸的材料进行稳定性强、可重复性的厚度测。精确的厚度测值以大号数字显示在背光LCD显示屏上；如选择A扫描模式，则厚度测值与实时波形一同显示。 Panametrics 35系列的特性 • 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测。 • 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm(0.0030 in.～25.0 in.)，取决于仪器和材料。 • 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。 • 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。 • 手持式，仅重0.24公斤(8.5盎司)。 • 小/大模式 • 高-低报 • 英制和公制显示(英寸或毫米) • 多种语言用户界面 • 长效电池 Panametrics 35型和35DL型? 在大多数应用中都可应用35型和35DL型 35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测的精度越高。 |
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