| 一、主要特点 主要用于半导体硅晶片检测、LCD液晶屏检测、实验室材料分析及其他精密工程检测领域，可对样品进行明场、暗场及简易偏光观察。 二、仪器介绍 1）系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜，成像清晰、像面平坦 2）配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明 3）正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的性与操作的适应性 4）配备了6”带离合器机械平台，行程158*158mm，可快速移动 5）佳人机学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制，粗微调同轴 6）光源采用宽电压数字调光技术，具有光强设定与复位功能 7）可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域 三、技术参数 光学系统: 无限远色差校正光学系统 物镜: 无限远平场消色差，长工作距金相物镜（明暗场两用），5X、10X、20X、50X、80X、 目镜: 高眼点平场目镜，PL10X，线视场φ22mm 高眼点平场目镜，PL15X，线视场φ16mm 观察筒: 正像，铰链式三目，25°倾斜，分光比：双目，三目 照明系统: 反射式柯拉照明，明暗场切换，带简易偏光接口，12V/100W卤素灯，预置中心采用数字调光，具有光强设定与复位功能，带光阑 调焦机构: 粗微调同轴，带粗调上限位、松紧调节装置和随机限位装置 粗调行程：33mm（焦后1mm），微调精度：0.001mm 大样品高度：32mm 物镜转换器: 内、内倾式、五、明暗场两用物镜转换器 载物台: 6英寸矩形，机械移动平台445mmX240mm，移动行程：158mmX158mm 低位同轴调节，带离合器控制手柄，可快速移动 机架: 全新的人机工程学设计，高刚性镜臂，“Y”型底座，前置式操作控制 四：选购附件: 摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等 |
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