产品名称：TEK80E04 产品说明： 电接口取样模块:Tektronix80E0420GHz2ChTDRmoduleforCSA800080E04模块主要特点和点高达70GHz的带宽和5ps的上升时间(10-90%)低的分析噪声–60GHz时450μVRMS,30GHz时300μVRMS远程取样器*1把采样头放到DUT附近，保佳的保真度独立的取样器偏移校正功能，保简便地反嵌夹具和探头双通道高精度微波连接器(3.5mm,2.92mm,2.4mm和1.85mm)探头支持TDR模块15ps反射真正差分全内置TDR上升时间(12ps入射)，阻抗分辨率小于1mm高达50GHz的高效、准确、简便易用、经济的S参数测 应用串行数据应用阻抗检定和S参数测抖动、噪声和BER分析通道和眼图仿真和于测的Spice模型高性能TDR/T测阻抗特征,电感,电容和S参数测传输线,阻抗和串扰真正差分,共模和单端测高效隔离故障电接口取样模块80E10?80E09?80E08?80E07?80E06?80E06X2?80E04?80E03?80E01 主要特点和点所有模块高达70GHz的带宽和5ps的上升时间(10-90%)低的分析噪声–60GHz时450μVRMS,30GHz时300μVRMS远程取样器*1把采样头放到DUT附近，保佳的保真度独立的取样器偏移校正功能，保简便地反嵌夹具和探头双通道(80E01和80E06除外)高精度微波连接器(3.5mm,2.92mm,2.4mm和1.85mm)探头支持(80E06除外)TDR模块15ps反射真正差分全内置TDR上升时间(12ps入射)，阻抗分辨率小于1mm高达50GHz的高效、准确、简便易用、经济的S参数测 应用串行数据应用阻抗检定和S参数测抖动、噪声和BER分析通道和眼图仿真和于测的Spice模型80E10,80E08和80E04高性能TDR/T测阻抗特征,电感,电容和S参数测传输线,阻抗和串扰真正差分,共模和单端测高效隔离故障80E09,80E07,80E06,80E01高频,低噪声采集快速上升时间测抖动分析和波形分析80E03和80E02器件检定,传输,波形参数小测*1集成在80E07–80E10上，80E01–80E04和80E06上选装。TDR模块:80E10,80E08和80E0480E10、80E08和80E04是双通道时域反射计(TDR)取样模块，在80E10中提供了高达12ps的入射上升时间和15ps的反射上升时间(在80E08中提供了18ps的入射上升时间，在80E04中提供了23ps的入射上升时间)。这些模块的每条通道都能够生成一个用于TDR模式的快速阶跃；取样模块的采集部分监测入射阶跃和任何反射弟。可以独立选择每条通道的阶跃极性。除独立测试隔离线路外，它还可以对两条耦合线路执行差分或共模TDR或S参数测试。每条通道独立阶跃生成功能可以实现真正差分测，保了差分器件的测准确性。80E10和80E08是全面集成的独立式小型2米远程取样器系统，可以把采样头放在DUT附近，保佳的保真度。泰克为80E04提供了选装的2米扩展器。这些模块使用TDR阶跃驱动一条线路(或在测差分串扰时驱动线路对)，同时使用另一条通道监测第二条线路(或在测差分串扰时使用另一个模块)，检定串扰。8200和8000系列主机上的“滤波器”功能可以与TDR或串扰测一起使用，以较低的边沿速率检定预计的系统性能。所有模块拥有独立的入射阶跃和接收机偏移校正功能，消除了测夹具和探头的影响，可以更快、更简便地反嵌测试夹具。80E10取样模块提供了7ps的采集上升时间及高达50GHz的用户可选同等带宽(50,40和30GHz设置)。80E08的取样带宽是30GHz(用户可以选择30和20GHz设置)，80E04的取样带宽是20GHz。20GHzP8018单端探头和18GHzP80318差分可变间距TDR探头提供了杰出的性能和一致性测试功能，保简便准确地测背板和封装器件。在用户结合使用这些模块及泰克IConnect?TDR和VNA软件时，可以采集高达1,000,000的数据点，获得高达50GHz的差分、混合模式和单端S参数测结果。IConnect还可以进行各种串行数据标准要求的阻抗、S参数和眼图一致性测试，及为千兆位互连进行全通道分析、Touchstone(SnP)文件输出和SPICE建模。产品名称：TEK80E04 产品说明： 电接口取样模块:Tektronix80E0420GHz
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