厂供天光测控ST-Thermal-Rth晶体管热阻测试系统 产品简介 l ：天光测控晶体管热阻测试系统 l 型号：ST-Thermal-Rth l 测范围：4000A/9V l 测精度：±0.1%set+0.4%FS l 测试对象：IGBTs / DIODEs / MOSFETs等19种材料 l 欢迎垂询029*8730*9001
系统概述
近年来由于电子产的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大生产及低成本的方向。组件的发热密度，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果是产品度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中*常用也是重要的考标准是热阻（thermal resistance）。
本系统测试原理 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法）运用实时采样静态测试方法（Static Method），用于测试各类IC（包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。
系统特征：
● 可测试瞬态热阻，也可测试稳态热阻；
● 测试精度高
● 灵活的热敏参数M值测试，有两种测试方法:
(1)快速测试方法，只测试PN结常温下的结压降，再与(-273.15℃,1267mV)进行线性计算M值，此方法快速便捷，在1S以内可以确定一种器件的热敏参数M值；
(2)依据标准IEC60747-9和美军标MIL-750E的方法，用两点法确定热敏参数M值，可以用油槽恒温加热，也可以用空气恒温加热。
● 基于Windows系统的控制软件，测试条件可存储到器件文件库，测试率高；
● 实时显示器件壳温测温度曲线，绘制热阻曲线（从瞬态到稳态）、二次击穿曲线、结压降采样曲线、特定脉冲宽度加热下的安全工作区曲线，使用户轻松掌握热阻测试全过程。
●测试结果表格化显示，清楚明了，便于观察。可以存储为EXCEL格式，便于数据交流和阅读整理。可以打印，便于保存分析。
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